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NOISEKEN最新發(fā)布?靜電放電模擬器通過(guò)模擬帶電人體的靜電放電現(xiàn)象來(lái)評(píng)估電子設(shè)備的抗靜電能力。?帶電人體接近電子設(shè)備控制面板、按鈕開(kāi)關(guān)和外殼時(shí)產(chǎn)生的靜電放電會(huì)產(chǎn)生高壓和高頻噪聲，從而導(dǎo)致電子設(shè)備故障。?靜電測(cè)試可再現(xiàn)靜電放電引起的干擾，...

在IEC61000-4-4的標(biāo)準(zhǔn)里，規(guī)定了要分別用5KHz及100KHz兩個(gè)不同頻率分別進(jìn)行測(cè)試，那到底5KHz及100KHz的主要區(qū)別在哪里呢？若單純從頻率角度看，100KHz頻率的脈沖群干擾更嚴(yán)酷，相對(duì)來(lái)說(shuō)更容易讓被試產(chǎn)品出現(xiàn)問(wèn)題。而從...

汽車(chē)電驅(qū)（ElectricVehicle,EV）的電磁兼容性（ElectromagneticCompatibility,EMC）風(fēng)險(xiǎn)是指與電動(dòng)車(chē)輛的電子系統(tǒng)和周?chē)h(huán)境之間可能發(fā)生的電磁干擾和兼容性問(wèn)題。由于電動(dòng)車(chē)輛采用了大量的電子設(shè)備和高功...

靜電放電(ESD:ElectrostaticDischarge)，應(yīng)該是造成所有電子元器件或集成電路系統(tǒng)造成過(guò)度電應(yīng)力(EOS:ElectricalOverStress)破壞的主要元兇。因?yàn)殪o電通常瞬間電壓非常高(幾千伏)，所以這種損傷是毀...

暗室測(cè)量進(jìn)行電子產(chǎn)品的輻射騷擾檢測(cè)，對(duì)于促進(jìn)相關(guān)行業(yè)的進(jìn)步和發(fā)展具有著明顯的促進(jìn)作用。不同的測(cè)試桌對(duì)于測(cè)試結(jié)果的影響均不會(huì)相同，要想得到準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，只能采取在統(tǒng)一的區(qū)間段進(jìn)行對(duì)比，其結(jié)果與無(wú)測(cè)試桌的測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)一整理，這樣，就可以有效的得...

1966年IBM的ManoharL.Tandon發(fā)表了電子產(chǎn)品對(duì)高頻噪聲的抗擾度的系統(tǒng)評(píng)價(jià)。NOISEKEN從1975年創(chuàng)業(yè)開(kāi)始，就通過(guò)產(chǎn)品操作說(shuō)明書(shū)、噪聲技術(shù)報(bào)告、技術(shù)手冊(cè)等來(lái)解說(shuō)高頻噪聲試驗(yàn)的試驗(yàn)方法。各企業(yè)、各部門(mén)以此試驗(yàn)方法為基礎(chǔ)，...